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1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Revista Científica (Journal Article)
Sitemarte3.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador6qtX3pFwXQZ3r59YCT/H3LjS
Repositóriosid.inpe.br/iris@1905/2005/08.04.03.10.54   (acesso restrito)
Última Atualização2006:01.26.15.48.00 (UTC) administrator
Repositório de Metadadossid.inpe.br/iris@1905/2005/08.04.03.11
Última Atualização dos Metadados2018:06.06.03.55.45 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE-13389-PRE/8604
ISSN0257-8972
Rótulo10529
Chave de CitaçãoBelotoUASSKRSP:2002:SpCoPo
TítuloSponge-like and columnar porous silicon implanted with nitrogen by plasma immersion ion implantation (PIII)
Ano2002
Data Secundária20020612
MêsJuly
Data de Acesso03 maio 2024
Tipo SecundárioPRE PI
Número de Arquivos1
Tamanho411 KiB
2. Contextualização
Autor1 Beloto, Antonio Fernando
2 Ueda, Mario
3 Abramof, Eduardo
4 Senna, José Roberto
5 Silva, M. D.
6 Kuranaga, C.
7 Reuther, H.
8 Silva, A. F.
9 Pepe, I.
Grupo1 LAS-INPE-MCT-BR
2 LAP-INPE-MCT-BR
Afiliação1 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
RevistaSurface and Coatings Technology
Volume156
Número1-3
Páginas267-271
Histórico (UTC)2005-08-04 03:11:07 :: administrator -> jefferson ::
2006-01-26 15:48:32 :: jefferson -> administrator ::
2018-06-06 03:55:45 :: administrator -> marciana :: 2002
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
Palavras-ChaveFISICA E TECNOLOGIA DE MATERIAIS
silicon
plasma immersion ion implantation (PIII)
reflectance
solar-cells
emitter
Resumoponge-like and columnar porous silicon (PS)were prepared from p- and n-type (100)monocrystalline silicon wafers using different anodization conditions (hydrofluoric acid concentration, current density and anodization time)and then implanted with nitrogen by plasma immersion ion implantation (PIII). The effect of the implantation and of the compounds formed was analyzed by measuring the reflectance of the implanted samples for wavelengths between 220 and 800 nm. A reduction in reflectance in the ultraviolet (UV)region of the spectrum was observed for polished Si samples and for all kinds of PS samples. Increased UV-induced photoluminescence in these samples caused by the increase in absorption in the UV region is expected.
ÁreaFISMAT
Arranjo 1urlib.net > BDMCI > Fonds > Produção anterior à 2021 > LABAS > Sponge-like and columnar...
Arranjo 2urlib.net > BDMCI > Fonds > Produção anterior à 2021 > LABAP > Sponge-like and columnar...
Conteúdo da Pasta docacessar
Conteúdo da Pasta sourcenão têm arquivos
Conteúdo da Pasta agreementnão têm arquivos
4. Condições de acesso e uso
Arquivo Alvobeloto.pdf
Grupo de Usuáriosadministrator
jefferson
Visibilidadeshown
Detentor da CópiaSID/SCD
Política de Arquivamentodenypublisher denyfinaldraft24
Permissão de Leituradeny from all and allow from 150.163
5. Fontes relacionadas
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ESR3H2
8JMKD3MGPCW/3ET2RFS
DivulgaçãoWEBSCI; PORTALCAPES.
Acervo Hospedeirosid.inpe.br/banon/2001/04.03.15.36
6. Notas
Campos Vaziosalternatejournal archivist callnumber copyright creatorhistory descriptionlevel documentstage doi e-mailaddress electronicmailaddress format isbn language lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress project readergroup resumeid rightsholder schedulinginformation secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork url versiontype
7. Controle da descrição
e-Mail (login)marciana
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